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附着强度图谱-自然科学领域：

研究人员

沈庆红 李淑瑾 郑勇 郑小玲 陈宗璋 靳九成 唐璧玉 孙鹤才

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铝膜 金属化系统 晶核取向 集成电路 使用性能 基底材料 硬度 工艺技术

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