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辐照缺陷图谱-自然科学领域：

研究人员

张金锋 赖启基 王振洲 施毅 黄龙 任丙彦 张维连 冯翠菊

相关术语

表面缺陷 超导转变宽度 硅片 空间也荷区 慢中子俘获反应 质杂 高Tc超导体 注量

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