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相容 排序 组合逻辑电路 Hammilton图 压缩解压缩 故障模式 集成电路测试 动态功耗 故障覆盖率 FDR码 可信度 寄存器传输级 内建自测试 高级加密标准 可测性设计 VC 基于覆盖率的方法 扫描测试 行为描述 分支结构 BIST 关联规则 功能验证 集成电路 验证环境 DFT