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可测性设计 线性反馈移位寄存器 测试向量 马尔可夫过程 触发器阵列 伪随机序列生成电路 故障覆盖 低功耗 低功耗测试 循环冗余码 测试数据压缩 ADC测试 可测性设计 线性反馈移位寄存器 可测性度评估算法 混淆概率 测试时间 折叠计数器 输入相容 模数转换器 嵌入式内存 部分扫描 故障覆盖率 测试算法 多扫描链 内建自修复 矩阵扫描 本原多项式 测试点 测试点个数

可测性设计

线性反馈移位寄存器