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Cu-In合金膜图谱-自然科学领域：

研究人员

郑毓峰 简继康 马忠权 简基康 徐少辉 李冬来

相关术语

结构 CIS薄膜 电学性质 共溅射 费-桑理论 临界厚度 硒化法

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