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SiO2薄膜图谱-自然科学领域：

研究人员

杨武 薛再兰 杨决宽 孔蕴婷 胡明雨 孙兆奇 李观启 吴靓臻

相关术语

XPS 超疏水 氧化物电荷 C-V特性 离子注入 接触角 模拟 红外吸收

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