孙小军 何广平 赵金锁 郝跃 田絮资 焦建民 贺建萍 姜晓鸿 段旭朝

参数成品率 失效估模型 最优性条件 均方收敛 随机规划 设计参数 集成电路 优化模型 成品率 最优值 电迁移 丢失物缺陷 多峰极值 抽样方法 遗传算法 缺陷 性能 上图收敛 关键面积 信赖域

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