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许铭真图谱-自然科学领域:
相关人员
张贺秋
魏希文
刘艳红
谭长华
研究领域
MOSFET
少数载流子
时变效应
高电场应力
界面陷阱密度
比例差分
数值解MOS结构
所属机构
大连理工大学物理系
北京大学微电子研究所
北京大学微电子研究院
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