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薄膜厚度图谱-材料领域：

研究人员

王博 林义民 庞重军 杨坚 张华 严洁 王书明 刘慧舟

相关术语

ARXPS 衬底温度 c轴晶格常数 覆盖率 金膜 涂层导体 材料检测与分析技术 PLD

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