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C-V特性图谱-材料领域：

研究人员

张佐兰 魏同立 刘刚 董晓敏 王华 黄勤 郭冬云 魏龙

相关术语

Bi4Ti3O12 极化强度 介电常数 Sol-Gel法 铁电薄膜 绝缘膜 LB膜 钛酸铋薄膜

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