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ZAO薄膜图谱-材料领域：

研究人员

张弓 苏晓磊 孙超 裴志亮 付恩刚 周万城 杨伟方 朱冬梅

相关术语

工艺参数 电学光学性质 简并半导体 红外发射率 工作气压 透过率 透明导电氧化物 磁控溅射

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