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集成电路测试图谱-计算机领域：

研究人员

张旻晋 李华伟 叶以正 龙望宁 管建和 柴大勇 赵昌顺 费俊明

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最小测试应用时间 串扰 通路敏化 测试生成 大功率 可视化 器件编程 通路时滞故障测试生成

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